各種テスト生成回路の2パタンテスト能力について
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概要
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CMOS回路の開放故障(stuck-open fault)を論理的に検出するためには2パタンテストが用いられる.組込み自己検査(BIST)におけるテストパタン生成(TPG)回路の2パタンテスト能力を予言するための尺度として遷移被覆度がすでに提案されている.また,与えられた遷移被覆度を持ったTPG回路の設計法も示されている.本文では,遷移被覆度と故障検出率の関係を確認するために,LFSRや一次元セルラアレイなどのTPG回路について,樹状NAND回路やISCASベンチマーク回路を対象としてシミュレーションを行った結果について述べている.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1993-06-08
著者
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