相変化光ディスクのマークエッジ記録特性
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概要
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高密度記録に有効なマークエッジ記録を相変化光ディスクに適用した場合の課題を検討し、記録点と消去部分の吸収率差がオーバライトジッタの主要因であることを明らかにした。この吸収率差を解消する方法として、Si反射膜ディスクと、位相差再生型ディスクを設計し、評価した。結晶部の吸収率を非晶質部より大きく設定することにより、良好なオーバライトジッタが確認できた。吸収率制御がジッタ低減に有効であることを実証した。さらに、記録マーク周囲の結晶粒径とジッタ特性の関係を測定した。昇温の緩やかな記録マーク前端では、マーク周囲の粗大結晶の影響を受けてマーク形状が揺らぐ傾向にあり、消去部分の粒径制御もジッタ低減の点から重要であることがわかった。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1993-12-15
著者
-
大嶋 則和
NECデバイスプラットフォーム研究所
-
大久保 修一
Necメディア情報研究所
-
大久保 修一
日本電気株式会社メディア情報研究所
-
大嶋 則和
Nec
-
井出 達徳
NECメディア情報研究所
-
岡田 満哉
Nec 大容量光ファイル開発センタ
-
村畑 美智雄
NEC
-
本田 ひろ子
NEC
-
岩永 敏明
NEC
-
岩永 敏明
NECメディア情報研究所
-
大久保 修一
NEC マルチメディア研究所
-
井出 達徳
NEC マルチメディア研究所
-
村畑 美智雄
NEC 大容量光ファイル開発センタ
-
本田 ひろ子
NEC 大容量光ファイル開発センタ
-
岡田 満哉
日本電気 大容量光ファイル開セ
-
岡田 満哉
Nec
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