垂直磁気記録パターンのMFM観察像の解析
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概要
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磁気力顕微鏡(MFM)で観察した像から磁気記録の記録磁化が定量的に測定されるようになってきているが, MRヘッドが磁界を検出するのに対し, MFMで検出するのは磁界の微分であるため, 直接比較するには問題があると予想される. ここでは垂直磁気記録パターンにおいて単純なモデルを仮定し, 表面の漏れ磁界とその微分波形との相違を解析し, 実際に得られたMFM像と比較した. 計算から磁界の微分においてはスペーシング損失係数が, d/λが小さいところでは大きく, d/λが大きいところでは小さくなり, MFM観察では高密度領域が強調されて検出され得ることが分かった. 実際のMFM観察でも損失係数が45dB程度と小さいことを確認した.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-01-24
著者
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