マイクロ波帯のシールドボックス性能測定法(EMC計測)(<特集>最新のEMC技術論文特集)

概要

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電子機器や通信機器の高周波化に伴い,マイクロ波帯でのEMC測定規格が作成されつつあるが,シールドボックスのシールド性能測定技術についてはあまり論じられていない.一方,システムのEMC設計ではシールドボックスに対してシールド性能を配分する必要が生じるため,その測定法が重要となる.本論文ではマイクロ波帯のシールドボックス性能測定法について議論する.シールド性能はシールドボックスの有無による電界強度差で定義できる.ボックス内部の電磁界分布は,複数の電波漏えい箇所からの信号をソースとし,内部で多重反射を起こした結果として,マルチパス干渉が現れる.その結果,受信アンテナを内部に固定して,内部信号のピーク値を検出するのは難しい.ピーク値の検出ができない場合は,内部信号レベルを過小評価し,シールド性能を過剰に見積もるおそれがある.そこで,アンテナ位置を固定したまま周波数掃引することでピーク値の測定を可能にした.実際にマイクロ波発生器及びスペクトラムアナライザ,低雑音増幅器でシステムを構成し,1〜20GHzで80dB程度のシールド性能測定が可能なことを実証した.
2003-07-01