低インピーダンス強磁性トンネル接合NiFe/Al_2O_3/NiFeのノイズ測定
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概要
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This paper reports noise measurements of low impedance NiFe/Al_2O_3/NiFe tunnel junctions. For samples with a junction area of 4×4 μm^2, the noise spectrum density Sv shows 1/f-like increase at low frequencies. Sv of the 1/f-like noise depends on bias as V^2 and decreases with decreasing temperature as Sv (300 K)/Sv (77 K)〜4. In an external magnetic field of 60 Oe, where coupling of the two ferromagnetic layers changes from parallel to antiparallel, Sv at 77 K is strongly enhanced and its frequency dependence has a shoulder-like anomaly. For a sample with a smaller junction area (2×2 μm^2), Sv(f) also shows a shoulder-like anomaly even at room temperature in a zero field. In the time domain, two-level fluctuation (telegraph noise) was observed. This observation indicates the existence of fluctuators with spatial scale of the order of 1 μm^2.
- 社団法人日本磁気学会の論文
- 2001-04-15
著者
-
松田 和博
Nec機能デバイス材料研究本部
-
上條 敦
NEC機能デバイス材料研究本部
-
柘植 久尚
NEC機能デバイス材料研究本部
-
水野 友人
都立大院理
-
木下 日登美
東京都立大学大学院理学研究科
-
水野 友人
東京都立大学大学院理学研究科
-
青木 勇二
東京都立大学大学院理学研究科
-
菅原 仁
東京都立大学大学院理学研究科
-
佐藤 英行
東京都立大学大学院理学研究科
-
三塚 勉
NEC機能デバイス・材料研究本部
-
木下 日登美
都立大院理
-
三塚 勉
NEC基礎研究所
-
青木 勇二
東京都立大学
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