213 電子スペックルパターン干渉法による低温下での材料の微小変形の測定(GS-10 計測)

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概要

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• 一般社団法人日本機械学会の論文
• 2000-03-16

著者

• 久田 重善

  関西大

• 久田 重善

  関西大・工

• 中原 住雄

  関西大・工

• 藤田 武良

  関西大・工

• 西口 篤志

  関西大・院

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