30p-YN-12 高い補償比をもつ半導体の不純物吸収に関する実験と計算機シミュレーション
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 1995-03-16
著者
-
大山 忠司
阪大理
-
原田 義之
大阪工大ナノ材研
-
藤井 研一
阪大理
-
Haller E.e
Berkeley
-
Itoh Kohei
Lbl(univ.of California)
-
原田 義之
阪大理
-
Haller E.E
LBL(Univ.of California)
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