28p-SG-4 シリコン・マイクロストリップ検出器用高速プレアンプ・チップの放射線損傷
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 1991-03-11
著者
-
氏家 宣彦
高エ研
-
池田 博一
高エネルギー研(特別プロジェクトチーム)
-
池田 博一
高エネルギー研
-
赤沢 幸雄
NTT LSI研究所
-
氏家 宣彦
高エネルギー研
-
赤沢 幸雄
NTTLSI研
-
川口 浩一
筑波大
-
氏家 宣彦
高エネルギー物理学研究所
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