テスト LSI を用いたプリント板からの電磁放射低減に関する検討
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概要
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LSIの動作モードが設定可能なテストLSIを開発し, 動作モードと放射との関連, 放射の支配的要因の推測, さらに放射低減について検討を行った。その結果, バッファ出力が外部トレースを駆動する動作モードでの放射が大きいこと, さらに近傍磁界強度分布の測定からLSI搭載部において大きな高周波電流のループが形成されていることがわかった。そして, このループがプリント板の電源・グラウンド部を励振し, 高周波電流がプリント板上に広く分布することにより, 放射が発生していることがわかった。そこで, LSIパッケージ部にフェライトを装荷する対策, また, 銅板で覆う対策を実験し, LSI搭載部での対策が有効であることを確認した。
- 社団法人エレクトロニクス実装学会の論文
- 2002-09-01
著者
-
橋本 修
青山学院大学
-
芳賀 知
技術研究組合超先端電子技術開発機構
-
中野 健
技術研究組合超先端電子技術開発機構(aset)
-
芳賀 知
超先端電子技術開発機構
-
橋本 修
青山学院大 理工
-
須藤 俊夫
技術研究組合超先端電子技術開発機構(ASET)
-
芳賀 智
技術研究組合 超先端電子技術開発機構
-
中野 健
技術研究組合超先端電子技術開発機構
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