様々なトラップ密度を有するMONOSメモリのトンネル注入に基づくプログラム特性の解析的モデルとMONSメモリの提案
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概要
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- 2001-12-13
著者
-
野本 和正
ソニー(株)マテリアル研
-
小林 敏夫
ソニー(株)セミコンダクタネットワークカンパニー
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小林 敏夫
ソニー(株) 半導体事業グループテクノロジー開発本部
-
野本 和正
ソニー株式会社中央研究所
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野本 和正
ソニー(株)セミコンダクタネットワークカンパニー
-
青笹 浩
ソニー(株)厚木テクノロジーセンターセミコンダクターカンパニー超LSI研究所先端素子研究部
-
藤原 一郎
ソニー(株)セミコンダクタネットワークカンパニー
-
寺野 登志夫
ソニー(株)セミコンダクタネットワークカンパニー
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青笹 浩
ソニー(株)セミコンダクタネットワークカンパニー
-
青笹 浩
ソニー(株)
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