MRヘッド膜の腐食評価, 寿命推定
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概要
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- 1995-09-01
著者
-
山田 一彦
日本電気(株)
-
山田 一彦
日本電気株式会社 機能デバイス研究所
-
斎藤 美紀子
早稲田大学
-
齋藤 美紀子
Nec・機能エレクトロニクス研究所
-
斎藤 美紀子
NEC 機能エレクトロニクス研究所
-
松村 邦彦
NEC 機能エレクトロニクス研究所
-
山田 一彦
NEC 機能エレクトロニクス研究所
-
斎藤 美紀子
Nec機能エレクトロニクス研究所
-
齋藤 美紀子
日本電気(株)基礎・環境研究所
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