山田 一彦 | NEC 機能エレクトロニクス研究所

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概要

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  日本電気株式会社 機能デバイス研究所

• 山田 一彦

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  Nec機能デバイス研

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• 鈴木 哲広

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著作論文

• MRヘッド膜の腐食評価, 寿命推定
• NiO/CoO スピンバルブ膜の磁気特性
• NiO/CoO反強磁性二層膜を用いたスピンバルブ膜
• シールド型SVヘッドの波形対称性制御に関する考察

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