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NECエレクトロニクス(株) | 論文
- 2.4Gb/s CMOSクロックリカバリ機能付き1:8DMUX
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- システムLSIの高信頼化を支える技術 (ディペンダブルIT・ネットワーク特集) -- (システムデバイス技術領域)
- C-12-46 小面積インダクタによる広帯域LNA回路の検討(C-12.集積回路,一般セッション)
- GTTH用小型・高感度ONUの開発
- GTTH(Gigabit To The Home)における多重分離方式に関する検討
- AV-DSPDアーキテクチャを用いた4.25GHz BiCMOSクロックリカバリ回路
- 中耐圧系(150〜250V)パワーMOSFET製品の開発 (半導体デバイス特集) -- (ディスクリートデバイス)
- プロセス 0.18μm世代SiおよびSiGe-BiCMOS技術の開発 (半導体デバイス特集) -- (基盤技術)
- SiGeBiCMOS技術における熱処理トレードオフおよびボロンスパイク効果低減の検討
- 自己整合型SiGeバイポーラ技術の開発 (半導体デバイス特集) -- (基盤技術)
- SC-9-2 選択エピによる自己整合型SiGeペースバイポーラ技術
- 位相比較機能を有する6Gbps動作のCMOS DEMUXモジュール
- Siトンネリング選択成長によるせり上げSDE構造を持つSub-10-nm CMOSデバイス(先端CMOSデバイス・プロセス技術)
- 低Hf濃度キャップ層(Hf=6%)形成によるHfSiONゲート絶縁膜の電気特性および信頼性向上とそのメカニズム
- 半導体ウエーハ処理工程におけるSPCとAPCの融合
- 4-6 半導体製造における統計的工程管理に有効なモデル構築と統計的工程管理のライフサイクル(3. 研究発表会の要旨, (社)日本品質管理学会 第35回年次大会)
- 再酸化窒化酸化膜の構造と電気特性
- 斜めビット線配置COBスタックキャパシタ1GDRAMセル
- 広出力カレンジ、クラスAB型CMOS演算増幅器