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NECエレクトロニクス(株) | 論文
- セルフアラインプラグを有する0.25μm埋め込み配線
- ATM-LAN用16-CAPトランシーバLSI
- ATM-LANトランシーバLSI用A/D変換回路
- ATM-LAN用3.3V 51.84Mb/s 16-CAPトランシーバLSI
- ATM-LANトランシーバLSI用AGC回路
- C-12-59 高速PLLにおける回路遅延による位相余裕の劣化とその影響
- 非同期ツリー型構造を用いた5Gb/s動作のCMOS1:8DEMUX 回路
- 3-4 不良作り込みICチップを用いた走査レーザSQUID顕微鏡での故障個所絞り込み可能性の検討(セッション3 LSIの故障解析-2)(日本信頼性学会第17回秋季信頼性シンポジウム報告)
- LSIにおける故障解析技術
- レーザービーム加熱を利用した半導体デバイスの解析手法 : OBIRCH法の現状と今後
- 編集にあたって(システムレベルデザイン)
- CT-2-1 LSI不良・故障解析技術の現状とレーザSQUID顕微鏡の適用(CT-2. SQUID先端検査技術の実用化を目指して,チュートリアルセッション,ソサイエティ企画)
- C-12-32 LSI故障診断用走査レーザSQUID顕微鏡観測画像のシミュレーション(C-12.集積回路ABC,一般講演)
- LSI故障解析手法における最近10年の進展(「信頼性・保全性・安全性の事例:材料・部品・デバイス編」〜信頼性ハンドブック出版から10年を経て〜)
- 光を用いたLSIの故障解析技術(故障物理と信頼性)
- 走査レーザSQUID顕微鏡によるLSIの検査・故障解析
- 2.3ウェハ裏面からの観測が可能なレーザSQUID顕微鏡(セッション2「故障解析2」)(日本信頼性学会第11回研究発表会報告)
- LSIの故障解析技術の最近の動向
- LSI故障解析における光の復権
- 256Mb DRAM用HSG-Siシリンダキャパシタ