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Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn | 論文
- Special Section on Discrete Mathematics and Its Applications
- On Delay Test Quality for Test Cubes
- A GA-Based X-Filling for Reducing Launch Switching Activity toward Specific Objectives in At-Speed Scan Testing
- Distribution-Controlled X-Identification for Effective Reduction of Launch-Induced IR-Drop in At-Speed Scan Testing
- A Statistical Quality Model for Delay Testing (Signal Integrity and Variability, VLSI Design Technology in the Sub-100nm Era)
- フィールドテストのための温度・電圧推定回路の試作評価 (ディペンダブルコンピューティング)
- マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減(テスト設計2,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減(テスト設計2,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- パターンマージングによる遷移遅延故障用テストのパス遅延故障検出能力向上手法(低消費電力・遅延テスト・高精度欠陥推定,VLSI設計とテスト及び一般)
- フィールドテストのための温度・電圧推定回路の試作評価(ばらつき・フィールドテスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- 低電力BISTにおけるシフトトグル率低減手法について(低消費電力・遅延テスト・高精度欠陥推定,VLSI設計とテスト及び一般)
- マルチサイクルBISTにおけるスキャン出力の電力低減手法 (ディペンダブルコンピューティング)
- ネットリストを用いたドントケアビット数の見積り手法に関する研究 (ディペンダブルコンピューティング)
- Parallel Transferable Uniform Multi-Round Algorithm for Minimizing Makespan
- A Capture-Safety Checking Metric Based on Transition-Time-Relation for At-Speed Scan Testing
- Estimation of Delay Test Quality and Its Application to Test Generation
- Delay Testing: Improving Test Quality and Avoiding Over-testing