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Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn | 論文
- Performance Evaluation of Channel Switching Scheme for Packet Data Transmission in Radio Network Controller(Mobile Radio)(Mobile Multimedia Communications)
- 部分X分解によるX故障モデルを用いた故障診断手法の高速化(故障モデル・故障許容・故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- 3値テストパターンに対する遅延テスト品質計算とX割当について(遅延故障テスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- 劣化検知テストにおけるパス選択について(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地)
- 劣化検知テストにおけるパス選択について(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-)
- 論理回路の動作環境とトランジスタの劣化特性について(設計/テスト/検証)
- 順序回路用故障シミュレーションにおけるコンパイル方式の適用と効果について(セッション2 : 故障シミュレーションと故障診断, VLSI設計とテスト及び一般)
- ブロードサイドテストにおけるN回検出用テストパターンに対するX判定(デザインガアイ2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- ブロードサイドテストにおけるN回検出用テストパターンに対するX判定(VLSIのテストI,デザインガイア2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- ブロードサイドテストにおけるN回検出用テストパターンに対するX判定(VLSIのテストI,デザインガイア2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- テスト生成における間接含意の効率的な生成方法(テスト,システム設計及び一般)
- テスト生成における間接含意の効率的な生成方法(テスト,システム設計及び一般)
- Hybrid BIST Design for n-Detection Test Using Partially Rotational Scan(Special Issue on Test and Verification of VLSI)
- QoS Routing Algorithm Based on Multiclasses Traffic Load(Special Issue on New Technologies in the Internet and their Applications)
- SB-14-1 QoS Routing Algorithm based on Multi-classes Traffic Load
- LSI回路のX故障によるPer-Test故障診断手法の拡張について(LSIの評価・診断・解析及び,品質)
- 低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
- 低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
- 低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について
- スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力化に効果的なテスト集合変更について(VLSIの設計/検証/テスト及び一般(デザインガイア))
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