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長岡技科大工 | 論文
- PC13 改良電極ITモードに関する研究(トピカルセッション-液晶物性計測の最前線-, 2005年日本液晶学会討論会)
- PC02 ラビングした配向膜の異方性の分布検出の試み(トピカルセッション-液晶物性計測の最前線-, 2005年日本液晶学会討論会)
- PA18 SOITE法を用いた液晶及び配向膜のキャラクタリゼーション(トピカルセッション-液晶物性計測の最前線-, 2005年日本液晶学会討論会)
- PA14 種々のΔnを持つ液晶の屈折率波長分散の実用的評価 (2)(トピカルセッション-液晶物性計測の最前線-, 2005年日本液晶学会討論会)
- PA09 表面レリーフグレーティングによる液晶配向(トピカルセッション-液晶物性計測の最前線-, 2005年日本液晶学会討論会)
- 1D12 液晶セル基板におけるラビング軸の同定と界面アンカリング精密測定法(トピカルセッション-ソフトマターと液晶-, 2005年日本液晶学会討論会)
- 斜め入射透過偏光解析法による液晶セルの評価
- PA05 配向膜界面における液晶の Characterization(2004年日本液晶学会討論会)
- Zenithal Bistable Display(ZBD)が拓く双安定型LCDの可能性
- 全反射エリプソメトリーによる界面液晶ダイナミクスの観察
- PA11 ポリイミド製ラビング布による配向制御(物理・物性)
- 1PA12 エリプソメトリーを用いたTNセルのねじれ角測定によるアンカリングエネルギー評価
- 1B14 全反射エリプソメトリーによる液晶界面フリッカー現象の解析
- 1B13 エリプソメトリーによるネマティック液晶の電場応答解析
- 2A08 全反射エリプソメトリーを用いた液晶配向膜界面における電場応答フリッカー現象の解析
- 2A07 色素添加反射エリプソメトリーによる極角アンカリング強度の評価
- PAb06 エリプソメトリー法によるSSFLCの応答特性の解析
- 分光エリプソメトリーによる液晶界面配向特性の解析
- 3A03 全反射エリプソメトリーによる界面液晶配向の電場応答の解析 (II)
- 3A02 全反射エリプソメトリーによる界面液晶配向の電場応答の解析 (I)