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東北大学 電気通信研究所 | 論文
- P162 コヒーレントドップラーライダーによる清川ダシ観測(2)
- C-11-3 Surrounding Gate Transistor (SGT) DRAM セルのソフトエラー現象の解析
- C-11-4 Double Gate-SOI(DG-SOI)MOSFETのソフトエラーのα粒子入射軌道依存性
- C-11-5 Double Gate-SOI(DG-SOI)MOSFETにおけるソフトエラー現象の解析
- C-11-3 Surrounding Gate Transistor(SGT) DRAMのソフトエラー耐性に関する考察
- A-2-37 非線形結合されたvan der Pol発振器の平均化法による同期解析(A-2.非線形問題,一般講演)
- 非線形結合された二つのvan der Pol発振器の平均化法による同期特性の解析(非線形問題)
- 粘菌モデルから導出される新しい同期化法の平均化法による解析
- 発振器の結合系における2重モード解の分岐現象
- 発振器の結合系における分岐現象 : 非線形性を強めた場合(研究速報)
- 擬似カオスシステムの周期性と計算精度との関係について(通信と非線形特集及び一般)
- 発振器の結合系に見られる遷移ダイナミックスとカオス(非線形問題)
- 発振器の結合系にみられる遷移ダイナミックスとカオス
- NLP2000-37 / NC2000-31 カオスを用いた位相同期回路の引込み範囲の拡大について
- トランジスタ構造の立体化 : 縦型MOSトランジスタの高密度メモリーへの可能性
- ハローインプランテーション技術を用いた30nmゲート長ダブルゲートMOSFETの研究,AWAD2006)
- ハローインプランテーション技術を用いた30nmゲート長ダブルゲートMOSFETの研究
- C-11-6 Stacked-SGT DRAMを用いた2.4F^2メモリセル技術
- C-11-5 Si柱側壁表面の平滑化
- フラッシュメモリ技術