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日本電気(株) マイクロエレクトロニクス研究所 | 論文
- パネル討論 : 設計/CAD技術はディープサブミクロン時代の挑戦に耐えられるか
- ディジタル高精細/超高精細動画像メディアの動向
- 5.画像処理DSP(画像信号処理LSI)
- ビデオシグナルプロセッサ (VSL) ULSI の高性能化 ( マイクロプロセッサ 4. 高速化動向 4-1)
- マルチメディア時代へ向けた高速光通信用Si-ICの開発
- 2.4Gb/s光通信用MOS-プリアンプIC
- パネル討論 : 大学および企業における設計者教育 : 大学が目指す教育, 企業が望む教育
- パネル討論:大学および企業における設計者教育 : 大学が目指す教育, 企業が望む教育
- 並列接続MOSFETを用いたしきい値電圧標準偏差の測定評価
- C-12-31 冗長多値ロジックを用いた10Gb/s CMOS DEMUX IC
- 2.4Gb/s CMOSクロックリカバリ機能付き1:8DMUX
- C-11-2 垂直電界に関するバルクMOSFETとSOI-MOSFETの比較
- 素子微細化が真性半導体ボディSOI-MOSFETのI_向上効果に与える影響
- 素子微細化が真性半導体ボディSOI-MOSFETのI_向上効果に与える影響
- 真性チャネルSOI-MOSFETのV_ばらつきに対する電界の二次元効果の影響
- ストライプトゲート真性半導体チャネルSOI-MOSFETのしきい値制御に関するシミュレーション
- パネル討論 : 大学および企業における設計者教育 : 大学が目指す教育, 企業が望む教育
- 並列接続MOSFETを用いたしきい値電圧標準偏差の測定評価
- 「電流立上り電圧」ばらつきに起因する微細MOSトランジスタのランダム電流ばらつきの解析(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)
- DMA TEGによるSRAMのスタティックノイズマージンの直接測定と解析(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)