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半導体理工学研究セ | 論文
- ゲート内抵抗性オープン欠陥に対する微小遅延故障モデル(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- 故障励起関数を利用したオープン故障の診断法(ディペンダブルコンピューティング)
- D-10-16 統計的タイミング情報に基づく適応型テスト(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- スキャンベースBISTにおけるテストデータ100倍圧縮に関する検討(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
- スキャンベースBISTにおけるテストデータ100倍圧縮に関する検討(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
- スキャンベースBISTにおけるテストデータ100倍圧縮に関する検討
- スキャンベースBISTにおけるテストデータ100倍圧縮に関する検討
- 統計的タイミング解析を用いたばらつき考慮テストメソドロジ (ディペンダブルコンピューティング)
- STARCにおけるLSIの故障診断の先端研究(LSIのテスト・評価技術)
- 事前見積りを利用した電力・ノイズ考慮テスト(インダストリアルセッション,設計/テスト/検証)
- 遷移遅延故障に対する高品質テスト生成手法について(セッション3 : テスト生成, VLSI設計とテスト及び一般)
- BAST : BIST Aided Scan Test : テストコスト削減のための新しい手法(テスト圧縮, LSIのテスト・診断技術論文)
- ATGおよびBIST技術を応用したテストコスト削減の新手法
- LSI故障診断システム
- 統計的タイミング解析を用いたばらつき考慮テストメソドロジ(フィールドテスト・製造ばらつき,VLSI設計とテスト及び一般)
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