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(株)半導体理工学研究センター | 論文
- 20aGQ-4 Si(001)ホールサブバンド分散の角度分解光電子分光測定(20aGQ 表面界面電子物性,領域9(表面・界面,結晶成長))
- マイクロプロセッサにおける基板ノイズの評価と解析(アナログ,アナデジ混載,RF及びセンサインタフェース回路)
- ゲート内抵抗性オープン欠陥に対する微小遅延故障モデル(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- ディープサブミクロン世代におけるSRAMのロバスト設計(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
- LSIの設計品質はCADツールの使いこなしが決める! : CAD技術の研究開発なくして高性能LSIはない
- 26pPSB-6 Bi吸着Si(001)表面の構造と電子状態(領域9ポスターセッション,領域9,表面・界面,結晶成長)
- 90nm世代を迎えたバラツキ設計技術の課題(プロセス・デバイス・回路・シミュレーション及び一般)
- [招待論文]90nm世代を迎えたバラツキ設計技術の課題(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
- 同時R/W課題への耐性を有する階層型レプリカビット線技術を用いた45nm2ポート8T-SRAM(メモリ,VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低消費電力))
- 同時R/W課題への耐性を有する階層型レプリカビット線技術を用いた45nm2ポート8T-SRAM(メモリ, VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低消費電力))
- テスト圧縮・展開手法におけるバッファ付き展開器について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
- テスト展開器のオーバヘッド削減のためのテストベクトルの並べ替えについて(VLSI設計とテスト)
- ハフマン符号に基づくテスト実行のためのテスト圧縮について
- ハフマン符号を用いたテスト応答圧縮について
- TA-1-5 LCR 抽出・解析設計技術
- 階層型IC信頼性シミュレータIRISES
- A-61 多機能回路特性解析ツール(A-3. VLSI設計技術,一般講演)
- DAC2004報告 : 物理設計技術(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
- [招待論文]DAC2003報告 : フィジカルデザイン(プロセス・デバイス・回路・シミュレーション及び一般)
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