内田 清隆 | 学習院大理

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• 川路 紳治

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• 内田 清隆

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• 深野 敦之

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  Jst-crest:東大生研:東大ナノ量子機構

• 横井 理秀

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著作論文

• コルビノ型試料を用いた量子ホール効果のブレークダウンの測定
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• 3a-Eー8 低移動度GaAs/AlGaAsヘテロ接合二次元電子系の分数量子ホール効果と複合フェルミオン
• 量子ホール効果のブレークダウンの試料形状依存性
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• 3a-E-8 低移動度GaAs/AlGaAsヘテロ接合二次元電子系の分数量子ホール効果と複合フェルミオン(3aE 半導体,低温合同(メゾスコピック,量子ホール効果),低温)

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