種市 寛人 | 東北大金研
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概要
関連著者
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大野 裕
東北大金研
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米永 一郎
東北大金研
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徳本 有紀
東北大金研
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三宅 秀人
三重大工
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Matsushima Hidetada
Department Of Electronics School Of Engineering Nagoya University
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沓掛 健太朗
東北大金研
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種市 寛人
東北大金研
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三宅 秀人
三重大学工学部電気電子工学科
著作論文
- 27aXS-8 ナノインデンテーション法によるAl_xGa_N薄膜の硬度測定(27aXS 格子欠陥・ナノ構造(転位・界面・半導体),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 26pKA-7 Al_xGa_N薄膜の混晶硬化と秩序構造との相関(格子欠陥・ナノ構造(半導体),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))