洪 慶麟 | 東京大学電気系工学専攻
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概要
関連著者
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竹内 健
東京大学電気系工学専攻
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宮地 幸祐
東京大学電気系工学専攻
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洪 慶麟
東京大学電気系工学専攻
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竹内 健
東京大学大学院工学系研究科電気系工学専攻
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竹内 健
(株)東芝 マイクロエレクトロニクス技術研究所
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宮地 幸祐
東京大学
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洪 慶麟
東京大学
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竹内 健
東京大学:(現)中央大学
著作論文
- BulkとSOI NANDフラッシュメモリセルにおける短チャネル効果とチャネル昇圧リークの微細化限界の検討(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
- Bulk とSOI NANDフラッシュメモリセルにおける短チャネル効果とチャネル昇圧リークの微細化限界の検討