桑野 博喜 | 日本電信電話(株)
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概要
関連著者
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桑野 博喜
日本電信電話公社武蔵野電気通信研究所
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桑野 博喜
日本電信電話(株)
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桑野 博喜
日本電信電話(株) サーバーソリューション研究所
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桑野 博喜
Ntt 入出力システム研究所
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保坂 寛
東京大学大学院 新領域創成科学研究科
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桑野 博喜
東北大学大学院工学研究科ナノメカニクス専攻
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保坂 寛
日本電信電話(株)電気通信研究所
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保坂 寛
日本電信電話(株)境界領域研究所
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小川 茂樹
日本電信電話(株)電気通信研究所
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小川 茂樹
Ntt
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小川 茂樹
日本電信電話(株)
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水沼 守
日本電信電話(株)入出力システム研究所
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水沼 守
日本電信電話(株)
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保坂 寛
東京大学大学院
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板生 清
東京大学大学院
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市川 昌弘
電気通信大学
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高松 徹
電気通信大学
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三宅 正二郎
日本電信電話公社武蔵野電気通信研究所
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三宅 正二郎
日本電信電話(株)
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三宅 正二郎
日本電信電話(株)電気通信研究所
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桑野 博喜
Ntt境界領域研究所
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西村 力
日本電信電話(株)境界領域研究所
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香川 博之
電気通信大学大学院
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杉本 岩雄
NTT 入出力システム研究所
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柳沢 佳一
NTT入出力システム研究所
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飯橋 真輔
日本電信電話
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柳沢 佳一
日本電信電話
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杉本 岩雄
日本電信電話
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小薮 国夫
日本電信電話
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桑野 博喜
Ntt 境界領域研
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村田 幸嗣
日本電信電話公社武蔵野電気通信研究所
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大澤 孝夫
中央大学
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阿部 浩士
中央大学大学院
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桑野 博喜
東北大学大学院工学研究科
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桑野 博喜
日本電信電話(株)境界領域研究所
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市川 昌弘
電気通信大学機械制御工学科
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村田 幸嗣
日本電信電話(株)
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阿部 浩士
中央大学
著作論文
- 反応性スパッタエッチングで生じるSi表面の欠陥の研究
- レーザービーム走査型管路検査センサの光学設計
- レーザビーム走査法を用いた管路内面形状測定における欠陥検出の試み
- 管内形状検査用レーザビーム走査型距離測定法
- 球圧子埋込みによる薄膜・基板接合体の応力分布の有限要素解析 : 薄膜および界面のミクロ破壊との関連において
- シリコン基板上の微小流路作製
- マイクロリレーアレー
- 通信システム用電磁マイクロリレーアレー
- 櫛歯状マイクロ振動子における連成振動の解析
- 通信用超小形マトリクスリレー
- ミニチュアマトリクスリレーの試作と動作解析
- 高速原子線加工技術(エネルギービーム加工の現状と将来)
- 集積型フォトカンチレバーを用いた走査型近接場光学顕微鏡