酒井 崇史 | 信州大学工学部
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概要
関連著者
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林部 林平
信州大学工学部
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上村 喜一
信州大学工学部
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山上 朋彦
信州大学工学部
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逸見 充則
信州大学工学部
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酒井 崇史
信州大学工学部
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上村 喜一
信州大学工学部電気電子工学科
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山上 朋彦
信州大学工学部電気電子工学科
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林部 林平
信州大学工学部電気電子工学科
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井口 裕哉
信州大学工学部
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鈴木 真一郎
信州大学工学部
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村田 裕亮
信州大学工学部
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杉田 晴彦
信州大学工学部
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杉田 暁彦
信州大学工学部
著作論文
- SiC表面の直接窒化と窒化層/SiC界面特性の評価
- TEOSを原料とするCVD法によるSiO_2/SiC MOS構造の作製(薄膜プロセス・材料,一般)
- TEOSを原料とするCVD法によるSiO_2/SiC MOS構造の作製