宮野 信治 | (株)半導体理工学研究センター極低電力研究開発部
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概要
関連著者
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川澄 篤
株式会社東芝
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篠原 尋史
株式会社ルネサステクノロジ
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篠原 尋史
(株)半導体理工学研究センター極低電力研究開発部
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宮野 信治
(株)東芝セミコンダクター社
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鈴木 利一
(株)半導体理工学研究センター極低電力研究開発部
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森脇 真一
(株)半導体理工学研究センター極低電力研究開発部
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川澄 篤
(株)半導体理工学研究センター極低電力研究開発部
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宮野 信治
(株)半導体理工学研究センター極低電力研究開発部
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(株)半導体理工学研究センター
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(株)半導体理工学研究センター
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(株)半導体理工学研究センター
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宮野 信治
(株)半導体理工学研究センター
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川澄 篤
(株)半導体理工学研究センター
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桜井 貴康
東京大学
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宮野 信治
東芝
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宮野 信治
半導体理工学研究センター
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桜井 貴康
東大
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桜井 貴康
東京大学工学系研究科生産技術研究所
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山本 安衛
(株)半導体理工学研究センター
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桜井 貴康
東京大学:JST, ERATO
著作論文
- サスペンディッド・ビットライン読出し方式を用いた0.5V 5.5nsecアクセスタイム バルクCMOS 8T SRAM(SRAM,メモリ(DRAM,SRAM,フラッシュ,新規メモリ)技術)
- ビット線振幅量を抑えるチャージシェア階層ビット線方式を用いた0.4V動作SRAM(依頼講演,メモリ(DRAM,SRAM,フラッシュ,新規メモリ)技術)