ポール オリバー | フライブルク大
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概要
関連著者
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神谷 庄司
名工大
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ポール オリバー
フライブルク大学
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ポール オリバー
フライブルク大
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ガスパー ジョアオ
フライブルク大学
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ガスパー ジョアオ
フライブルク大
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池田 裕介
名工大院
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坂 真澄
東北大
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河合 拓
名工大院
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坂 真澄
東北大学大学院
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坂 真澄
東北大学大学院工学研究科
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ルーター パトリック
フライブルク大学
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天木 伸吾
名工大院
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本田 直子
名大院
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坂 真澄
東北大学
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Le Vu
名工大院
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平田 一晃
名工大
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永吉 径
名工大院
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小瀬木 卓也
名工大院
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市村 正也
名工大
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本田 直子
名工大院
著作論文
- 431 シリコン材料の疲労特性に影響を及ぼす諸因子に関する研究(T09-2 微小機械システムにおけるマイクロ・ナノ力学(2) 単結晶シリコンの力学特性,大会テーマセッション,21世紀地球環境革命の機械工学:人・マイクロナノ・エネルギー・環境)
- T0301-1-3 不活性環境下でのシリコンの疲労挙動(マイクロ・ナノ構造体の強度・力学特性)
- 2841 シリコン薄膜の疲労特性とその評価(S08-3 微小機械設計・開発のための実験力学の新展開(3),S08 微小機械設計・開発のための実験力学の新展開)
- 311 損傷のキャラクタリゼーションに基づくシリコンの破壊力学的強度評価(OS4-2 技術革新に向けた新しい材料力学)
- 3953 多結晶シリコン薄膜の強度と疲労特性(S21-3 強度物性と信頼性,S21 ナノ・マイクロ構造体の強度物性と信頼性)
- 1842 多結晶シリコン薄膜の機械的信頼性評価に関する新しい試み(J09-1 マイクロ構造・材料の強度評価,J09 電子情報機器,電子デバイスの熱制御と強度・信頼性評価)
- T0302-1-2 ボッシュプロセスで作製されたMEMS構造体の強度設計法に関する基礎的研究([T0302-1]高信頼マイクロ・ナノデバイスのための設計・計測技術(1):シリコンの破壊と疲労)
- 751 多結晶シリコン薄膜の疲労挙動に及ぼす環境因子の影響(OS9-3 材料の疲労と破壊におけるミクロ計測と損傷評価3,OS9 材料の疲労と破壊におけるミクロ計測と損傷評価)