樋口 裕久 | (株)日立製作所デバイス開発センタ

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• 樋口 裕久

  (株)日立製作所デバイス開発センタ

• 松永 俊博

  (株)日立製作所 マイクロデバイス事業部

• 高橋 貴彦

  (株)日立製作所デバイス開発センタ

• 高橋 貴彦

  (株)日立製作所

• 橋本 修平

  (株)日立製作所マイクロデバイス事業部

• 川口 泰雅

  (株)日立製作所マイクロデバイス事業部

• 羽二生 稔

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• 松尾 光永

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• 川谷 直子

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• 樋口 裕久

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• 宮内 正敬

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• 野口 純司

  (株)日立製作所 デバイス開発センタ プロセス開発部

• 高橋 貴彦

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• 野口 純司

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• 安田 純一

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• 宮内 正敬

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著作論文

• 高密度、多ピンパッケージにおける高信頼性確認手法と事例紹介(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
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• Cu配線の信頼性評価(エレクトロマイグレーションによるショート不良モード解析)

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