小林 春夫 | 群馬大学大学院 工学研究科 電気電子工学専攻

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概要

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• 群馬大学大学院 工学研究科 電気電子工学専攻の論文著者

関連著者

• 小林 春夫

  群馬大学大学院 工学研究科 電気電子工学専攻

• 小林 春夫

  群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻

• 小林 春夫

  群馬大学大学院工学系研究科電気電子工学専攻

• 小林 春夫

  群馬大学 工学部

• 傘 昊

  東京都市大学

• 傘 昊

  群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻

• 高井 伸和

  群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻

• 傘 昊

  東京都市大学大学院工学研究科情報工学専攻

• 高井 伸和

  東京工芸大学工学部システム電子情報学科

• 山口 隆弘

  群馬大学大学院 工学研究科 電気電子工学専攻

• 山口 隆弘

  群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻

• 堀田 正生

  東京都市大学

• 小川 智彦

  群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻

• 林 海軍

  群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻

• 田邊 朋之

  群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻

• 高井 伸和

  群馬大学 大学院 工学研究科 電気電子工学専攻

• 田辺 朋之

  Electronic Engineering Dept. Gunma University

• 小林 春夫

  群馬大学

• 小林 春夫

  群馬大学工学部

• 堀田 正生

  武蔵工業大学

• 木村 圭吾

  群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻

• 光野 正志

  群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻

• 山田 佳央

  群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻

• 宮島 広行

  群馬大学大学院工学系研究科電気電子工学専攻

• 清水 一也

  群馬大学大学院 工学系研究科 電気電子工学専攻

• 光野 正志

  群馬大学 工学部

• 浅見 幸司

  (株)アドバンテスト

• 松浦 達治

  ルネサステクノロジ

• 松浦 達治

  (株)半導体理工学研究センター

• 木村 圭吾

  大阪大学医学部附属病院臨床検査部

• 元澤 篤史

  群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻

• ロレ パスカル

  シャープ株式会社

• 飯塚 邦彦

  シャープ株式会社

• 高橋 洋介

  群馬大学

• 田浦 哲也

  群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻

• 鈴木 孝秀

  群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻

• 須永 浩誌

  群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻

• 森村 正直

  コンサルタント

• 岡野 晴樹

  (株)東京測器研究所

• 岩崎 正美

  (株)東京測器研究所

• 宅野 弘行

  (株)東京測器研究所

• 鈴木 光正

  (株)東京測器研究所

• 篠田 幸雄

  (株)東京測器研究所

• 高橋 洋介

  群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻

• 浅見 幸司

  (株)アドバンテスト第1テストシステム事業本部第1SoCテスタ事業部

• 黒沢 烈士

  群馬大学大学院工学系研究科電気電子工学専攻

• 立岩 武徳

  群馬大学大学院工学系研究科電気電子工学専攻

• 山口 隆弘

  (株)アドバンテスト研究所

• 森 偉文樹

  群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻

• 森 偉文樹

  群馬大学大学院 工学系研究科 電気電子工学専攻

• 飯塚 邦彦

  シャープ株式会社 技術本部

• 田浦 哲也

  群馬大学

• 阿部 彰

  (株)半導体理工学研究センター

• 森 俊彦

  (株)半導体理工学研究センター

• 新津 葵一

  群馬大学

• 新津 葵一

  群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻

• 宮島 広行

  群馬大学

• 新津 葵一

  群馬大

• 水井 潔

  関東学院大学工学部

• 小室 貴紀

  アジレント・テクノロジー・インターナショナル(株)

• 小林 修

  株式会社kddi研究所

• 藤井 信生

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 西田 幸弘

  東芝lsiシステムサポート(株)

• 北森 俊行

  株式会社エヌエフ回路設計ブロック

• 北森 俊行

  東京大学

• 加藤 貴章

  武蔵工業大学大学院工学研究科電気工学専攻

• 水井 潔

  関東学院大学工学部 情報ネット・メディア工学科

• 水井 潔

  関東学院大学工学部情報ネット・メデイア工学科

• 高橋 常夫

  (株)エヌエフ回路設計ブロック

• 真鍋 亘

  群馬大学大学院 工学系研究科 電気電子工学専攻

• 高橋 常夫

  エヌエフ回路設計ブロック

• 吉田 博史

  東芝lsiシステムサポート(株)

• 安藤 和正

  東芝lsiシステムサポート(株)

• 上森 将文

  Electronic Engineering Dept. Gunma University

• 上森 将文

  群馬大学大学院 工学研究科 電気電子工学専攻

• 上森 聡史

  群馬大学大学院工学系研究科電気電子工学専攻

• 伊藤 聡志

  群馬大学大学院工学系研究科電気電子工学専攻

• 古川 靖夫

  (株)アドバンテスト

• 田辺 朋之

  群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻

• 水井 潔

  関東学院大

• 小堀 康功

  群馬大学 工学部

• 小堀 康功

  群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻

• 山田 貴文

  群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻

• 小長谷 肇

  群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻

• 内藤 智洋

  三洋半導体(株)

• 高橋 伸夫

  三洋半導体(株)

• 壇 徹

  三洋半導体(株)

• 馬場 清一

  三洋半導体(株)

• 北村 真一

  三洋半導体(株)

• 堀口 将史

  群馬大学大学院 工学系研究科 電気電子工学専攻

• 村山 知支人

  東芝LSIシステムサポート(株)

• 加藤 啓介

  群馬大学大学院工学系研究科電気電子工学専攻

• 藤井 信生

  東京工業大学 理工学研究科

• 藤井 信生

  東京工業大学大学院理工学研究科 電気物性理工学専攻

• 若林 和行

  群馬大学大学院工学系研究科電気電子工学専攻

• 小林 修

  半導体理工学研究センター

• 松浦 達治

  群馬大学大学院工学系研究科電気電子工学専攻

• 小室 貴紀

  アジレント・インターナショナル(株)

• 八木 勝義

  (株)半導体理工学研究センター

• 櫻井 正人

  群馬大学大学院工学系研究科電気電子工学専攻

• 新津 揆一

  群馬大学大学院工学系研究科電気電子工学専攻

• 針谷 尚裕

  群馬大学大学院工学系研究科電気電子工学専攻

• 小林 修

  Starc

• 松浦 達治

  東京都市大学知識工学部情報ネットワーク工学科

• 傘 昊

  (株) 半導体理工学研究センター

• 堀田 正生

  (株) 半導体理工学研究センター

• 阿部 彰

  東京都市大学知識工学部情報ネットワーク工学科

• 八木 勝義

  東京都市大学知識工学部情報ネットワーク工学科

• 森 俊彦

  東京都市大学知識工学部情報ネットワーク工学科

• 立岩 武徳

  群馬大学

• 北村 真一

  (株)三洋半導体

• 浅見 幸司

  (株)アドバンテスト第1テストシステム事業本部第1 SoCテスタ事業部

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著作論文

• 連続時間バンドパスΔΣAD変調器のQ値とループ遅延の影響(アナログ信号処理)
• デジタルアシスト・アナログテスト技術 : ナノCMOS時代のアナログ回路テスト技術(アナログ,アナデジ混載,RF及びセンサインタフェース回路)
• インバータタイプG_m-Cバンドパスフィルタの解析と設計
• RFサンプリング連続時間バンドパスΔΣAD変調器アーキテクチャの検討
• 動ひずみ測定ブリッジ回路の高精度化(電子回路)
• A-1-10 逐次比較形AD変換器用比較器回路(A-1. 回路とシステム,一般セッション)
• 冗長性をもった逐次比較近似AD変換アルゴリズム
• インターリーブADCでのタイミングスキュー影響のデジタル補正技術(アナログ,アナデジ混載,RF及びセンサインタフェース回路)
• テクノロジーの未来を考える : 次世代テクノロジーの進化を支えるキーポイント
• タイムデジタイザを用いたAD変換器の展開と高性能化
• A-1-9 複素ノイズ結合型バンドパスΔΣAD変調器(A-1. 回路とシステム,一般セッション)
• 動ひずみ測定回路の自動校正高精度化の実測検証
• C-12-46 SoC内ADCテスト信号生成アルゴリズム(C-12.集積回路,一般セッション)
• 冗長性をもった逐次比較近似AD変換アルゴリズム
• ディジタル制御電源用高時間分解能DPWM回路(電子回路)
• 冗長アルゴリズム逐次比較近似ADCでのコンパレータ・オフセットのデジタル補正技術(若手研究会)
• 広ダイナミックレンジのSMASH型ΔΣAD変調器(若手研究会)
• C-12-44 TVチューナ用ADPLLの検討(C-12.集積回路,一般セッション)
• リング発振器を用いたデジタルPWM発生回路
• デジタルアシスト・アナログテスト技術 : ナノCMOS時代のアナログ回路テスト技術(アナログ,アナデジ混載,RF及びセンサインタフェース回路)
• C-12-5 信号発生器用DACの非線形性補正(ミックスドシグナル,C-12.集積回路,一般セッション)
• C-12-4 任意波形発生器での2トーン信号相互変調歪みのデジタル補正(ミックスドシグナル,C-12.集積回路,一般セッション)
• インターリーブADCでのタイミングスキュー影響のデジタル補正技術(アナログ,アナデジ混載,RF及びセンサインタフェース回路)
• 逐次比較近似ADCコンパレータ・オフセット影響の冗長アルゴリズムによるディジタル補正技術(電子回路)
• ACT-1-3 デジタルアシスト・アナログRFテスト技術 : サブ100nmミックストシグナルSoCテストの考察(ACT-1.サブ100nm時代のCMOSアナログ技術,チュートリアルセッション,ソサイエティ企画)
• ACT-1-3 デジタルアシスト・アナログRFテスト技術 : サブ100nmミックストシグナルSoCテストの考察(ACT-1.サブ100nm時代のCMOSアナログ技術-,チュートリアルセッション,ソサイエティ企画)
• C-12-29 ジッタ測定BISTに向けたインターリービングPFDのプロセス依存性の解析(C-12.集積回路,一般セッション)
• 逐次比較近似ADCコンパレータ・オフセット影響の冗長アルゴリズムによるディジタル補正技術

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