逐次比較近似ADCコンパレータ・オフセット影響の冗長アルゴリズムによるディジタル補正技術(電子回路)
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概要
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研究機関IMECより逐次比較近似A-D変換器(SAR ADC)の低消費電力化の技術が二つ提案されている(コンパレータを二つ用いる方式及び電荷共有型方式).しかしそれらはコンパレータ・オフセットの影響によりSAR ADCの線形性が劣化するという特有の問題があるので,コンパレータ・オフセットをアナログ的に校正している.本論文では,これらのSAR ADCの低消費電力化技術に逐次比較近似冗長アルゴリズムを併用してコンパレータ・オフセットの影響をディジタル補正することでアナログ校正を不要にする方式を提案する.提案ディジタル補正方式はCMOS微細化の進展に伴いアナログ校正に比べ実現がより有利になることが期待できる.
- 2011-03-01
著者
-
小林 春夫
群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻
-
傘 昊
群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻
-
高井 伸和
群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻
-
小林 春夫
群馬大学工学部
-
小林 春夫
群馬大学大学院工学系研究科電気電子工学専攻
-
堀田 正生
東京都市大学
-
傘 昊
東京都市大学
-
小川 智彦
群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻
-
高井 伸和
群馬大学 大学院 工学研究科 電気電子工学専攻
-
高井 伸和
東京工芸大学工学部システム電子情報学科
-
小林 春夫
群馬大学 工学部
-
松浦 達治
ルネサステクノロジ
-
小林 春夫
群馬大学大学院 工学研究科 電気電子工学専攻
-
松浦 達治
(株)半導体理工学研究センター
-
阿部 彰
(株)半導体理工学研究センター
-
八木 勝義
(株)半導体理工学研究センター
-
森 俊彦
(株)半導体理工学研究センター
-
傘 昊
東京都市大学大学院工学研究科情報工学専攻
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