C-12-46 SoC内ADCテスト信号生成アルゴリズム(C-12.集積回路,一般セッション)
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2010-03-02
著者
-
小林 春夫
群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻
-
小林 春夫
群馬大学大学院工学系研究科電気電子工学専攻
-
浅見 幸司
(株)アドバンテスト第1テストシステム事業本部第1SoCテスタ事業部
-
山口 隆弘
(株)アドバンテスト研究所
-
上森 聡史
群馬大学大学院工学系研究科電気電子工学専攻
-
伊藤 聡志
群馬大学大学院工学系研究科電気電子工学専攻
-
古川 靖夫
(株)アドバンテスト
-
浅見 幸司
(株)アドバンテスト
-
小林 春夫
群馬大学 工学部
-
山口 隆弘
群馬大学大学院 工学研究科 電気電子工学専攻
-
小林 春夫
群馬大学大学院 工学研究科 電気電子工学専攻
-
小林 春夫
群馬大学
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