山口 隆弘 | (株)アドバンテスト研究所
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概要
関連著者
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山口 隆弘
(株)アドバンテスト研究所
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山口 隆弘
(株)アドバンテスト研究所 第1研究部
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小林 春夫
群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻
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小林 春夫
群馬大学大学院工学系研究科電気電子工学専攻
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布川 博士
宮城教育大学
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山口 隆弘
群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻
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今井 聡
(株)アドバンテスト研究所
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岩手県立大学ソフトウェア情報学部
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山口 隆弘
アドバンテスト研究所
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山口 隆弘
群馬大学大学院 工学研究科 電気電子工学専攻
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小林 春夫
群馬大学大学院 工学研究科 電気電子工学専攻
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本間 尚文
東北大学大学院情報科学研究科
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山本 和弘
株式会社アドバンテスト
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浅見 幸司
(株)アドバンテスト第1テストシステム事業本部第1SoCテスタ事業部
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宮澤 一之
東北大学大学院情報科学研究科
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岡安 俊幸
株式会社アドバンテスト
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株式会社アドバンテスト
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株式会社アドバンテスト
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一山 清隆
株式会社アドバンテスト研究所
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株式会社アドバンテスト研究所
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山口 隆弘
株式会社アドバンテスト研究所
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ソーマ マニ
ワシントン大学電子工学部
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上森 聡史
群馬大学大学院工学系研究科電気電子工学専攻
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伊藤 聡志
群馬大学大学院工学系研究科電気電子工学専攻
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古川 靖夫
(株)アドバンテスト
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高橋 毅
(株)アドバンテスト研究所 第1研究部
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今井 聡
アドバンテスト研究所
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山下 孝一
アドバンテスト研究所
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Danialy Givargis
Advansoft Research Corporation
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浅見 幸司
(株)アドバンテスト
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小林 春夫
群馬大学 工学部
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Aoki Takafumi
Graduate School Of Information Sciences Tohoku University:(present Address)presto Jst.
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プラタマ ファジャル
東北大学大学院情報科学研究科
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出川 勝彦
(株)アドバンテスト
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秋田 隆之
(株)アドバンテスト
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小林 春夫
群馬大学
著作論文
- 招待講演 デジタルアシスト・アナログテスト技術--ナノCMOS時代のアナログ回路テスト技術 (集積回路)
- デジタルアシスト・アナログテスト技術 : ナノCMOS時代のアナログ回路テスト技術(アナログ,アナデジ混載,RF及びセンサインタフェース回路)
- リファレンスクロックを必要としないプログラム可能なオンチップジッタ測定回路(VLSI一般(ISSCC2005特集))
- C-12-46 SoC内ADCテスト信号生成アルゴリズム(C-12.集積回路,一般セッション)
- 計測システムのユーザインタフェース設計とオブジェクト指向分析プロセスへのPICTIVE法の応用
- 並列FFTクラスの試作
- Lo-fiプロトタイプを利用したBooch法分析と設計例
- 信頼度モデルをもちいたオブジェクト指向技術の技術評価
- C-039 帯域分割法に基づく広帯域信号計測(ハードウェア・アーキテクチャ,一般論文)