古川 靖夫 | (株)アドバンテスト

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概要

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• 同名の論文著者
• (株)アドバンテストの論文著者

関連著者

• 小林 春夫

  群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻

• 小林 春夫

  群馬大学大学院工学系研究科電気電子工学専攻

• 浅見 幸司

  (株)アドバンテスト第1テストシステム事業本部第1SoCテスタ事業部

• 山口 隆弘

  (株)アドバンテスト研究所

• 上森 聡史

  群馬大学大学院工学系研究科電気電子工学専攻

• 伊藤 聡志

  群馬大学大学院工学系研究科電気電子工学専攻

• 古川 靖夫

  (株)アドバンテスト

• 浅見 幸司

  (株)アドバンテスト

• 小林 春夫

  群馬大学 工学部

• 山口 隆弘

  群馬大学大学院 工学研究科 電気電子工学専攻

• 小林 春夫

  群馬大学大学院 工学研究科 電気電子工学専攻

• 小林 春夫

  群馬大学

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著作論文

• C-12-46 SoC内ADCテスト信号生成アルゴリズム(C-12.集積回路,一般セッション)

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