デジタルアシスト・アナログテスト技術 : ナノCMOS時代のアナログ回路テスト技術(アナログ,アナデジ混載,RF及びセンサインタフェース回路)
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概要
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この論文ではミックストシグナルSoCのアナログ部のテストに関して現状と問題点を示し,次の2つの内容について考察する.(i)デジタル自己校正やデジタル誤差補正を用いてアナログRF回路を高性能化するデジタルアシストアナログ技術が微細CMOSを用いたSoC内で多用されつつある.この製造出荷時テスト法に関する考察を行う.(ii)微細CMOS SoC内ではDSPコア,メモリ等の豊富なデジタル回路を有する場合が多い.これらを利用してSoC内アナログRF回路のテストを容易化する技術について考察する.
- 2010-07-22
著者
-
小林 春夫
群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻
-
山口 隆弘
群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻
-
小林 春夫
群馬大学大学院工学系研究科電気電子工学専攻
-
山口 隆弘
(株)アドバンテスト研究所
-
山口 隆弘
群馬大学大学院 工学研究科 電気電子工学専攻
-
小林 春夫
群馬大学大学院 工学研究科 電気電子工学専攻
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