大田 広徳 | 日本電気株式会社生産技術研究所実装技術センター
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概要
関連著者
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大田 広徳
日本電気株式会社実装研究所
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大田 広徳
日本電気株式会社生産技術研究所実装技術センター
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河野 英一
日本電気株式会社 生産技術研究所
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河野 英一
日本電気株式会社生産技術研究所実装技術センター
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河野 英一
日本電気株式会社実装技術開発本部
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方 慶一郎
Necエレクトロニクス株式会社
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下戸 直典
日本電気株式会社生産技術研究所
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馬場 和宏
日本電気株式会社生産技術研究所
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村井 秀哉
日本電気株式会社実装研究所
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浦野 渡
日本電気株式会社実装研究所
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塚野 純
NECエレクトロニクス株式会社
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前田 武彦
NECエレクトロニクス株式会社
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田中 靖則
日本電気株式会社モバイルターミナル事業部デバイス開発部
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下戸 直典
日本電気株式会社実装研究所
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百川 裕希
日本電気株式会社生産技術研究所実装技術センター
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恒益 喜美男
日本電気株式会社モバイルターミナル事業部デバイス開発部
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馬場 和宏
日本電気株式会社実装研究所
著作論文
- 高性能CSP/SiP用超薄型高密度パッケージ基板(LSIシステムの実装・モジュール化技術及びテスト技術,一般)
- CSP 実装基板における曲げ試験での破壊モードと寿命
- CSP実装の製造・試験プロセス (実装技術ガイドブック1999年) -- (BGA/CSP編)