宇佐美 勝久 | 日立日立研
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概要
関連著者
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宇佐美 勝久
日立日立研
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宇佐見 勝久
日立 中研
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片山 良史
日立中研
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嶋田 寿一
日立中研
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宇佐美 勝久
日立中研
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宇佐美 勝久
(株)日立製作所 日立研究所
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小林 憲雄
日立日立研
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平野 辰巳
(株)日立製作所日立研究所
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今川 尊雄
(株)日立グローバルストレージテクノロジーズ
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田島 康成
日立
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平野 辰巳
日立日立研
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宇佐美 勝久
日立協和エンジニアリング(株)
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土井 俊哉
日立日立研究所
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今川 尊雄
(株)日立製作所ストレージ事業部
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今川 尊雄
日立・ストレージ事業部
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加茂 友一
日立日立研究所
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木本 浩司
日立
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木本 浩司
日立 日立研
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小松原 毅一
日立中研
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二本 正昭
株式会社日立製作所中央研究所
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二本 正昭
日立中研
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木本 浩司
物質・材料研究機構 ナノ計測センター 先端電子顕微鏡グループ
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平山 義幸
日立中研
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永田 文男
日立中研
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松田 臣平
Research & Development Devision Hitachi America Ltd.
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今川 尊雄
日立ストレージ事業部
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今川 尊雄
ストレージシステム事業部
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田島 康成
日立ストレージシステム事業部
-
田島 康成
ストレージシステム事業部
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浜 清
大阪大医
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木本 浩司
日立日立研
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添田 厚子
日立日立研究所
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武内 瀞士
日立日立研究所
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松田 臣平
日立日立研究所
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嶋田 寿一
日立製作所中央研究所
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片山 良史
日立製作所中央研究所
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USAMI Katsuhisa
日立製作所中央研究所
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宇佐美 勝久
日立製作所中央研究所
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平山 義幸
日立
著作論文
- 多波長X線反射率法による積層フェリ型SV膜の層構造解析
- 複数波長を用いた多波長X線反射率法の検討
- 4a-NL-7 XPSおよび赤外吸収によるa-Si:F中のSi-Fボンドの検討(II)
- 2a-W-25 XPSによるアモルファス・シリコン中の不活性元素の"結合状態"の検討
- 29a-D-6 XPSによるa-Si_xC_: Hの結合状態の検討 (II)
- XPSによるa-SixC1-X:H合金の組成分析
- 31p GE-6 XPSによるa-Si_xC_:Hの結合状態の検討
- 反応性スパッタリング法によるa-SixC1-x:H"混非晶"の作成といくつかの性質
- 非結晶体の電顕像にあらわれる色収差 : X線, 粒子線
- CoCrTa垂直磁気記録媒体における組成分離
- TlSr_2Ca_Y_xCu_2O__ (x=0〜1.0)の超電導性に及ぼす酸素量変化δの影響
- 31p-PS-65 TlSr_2Ca_Y_xCu_2O_7(X=0〜1.0)の低温X線回折測定
- XPSによるa-SixC1-x : H合金の組成分析