坂本 克好 | 電通大電子
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概要
関連著者
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坂本 克好
電通大電子
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坂本 克好
電通大
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名取 晃子
電通大電子
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山崎 尚
電通大
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名取 晃子
電通大
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河野 勝泰
電通大電子
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安永 均
電通大
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安永 均
電気通信大学電波通信学科
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神水 摂
電通大
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長谷川 修司
東大理
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河野 勝泰
電通大
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洪 炳哲
電気通信大学 電子工学科
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名取 晃子
電気通信大学電子工学科
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洪 炳哲
電通大
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上沢 貴秋
電通
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原 一毅
電通大
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羽賀 頼母
電通大
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河野 勝泰
電気通信大学電子工学科
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長谷川 修司
東京大学大学院理学系研究科物理学専攻
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藤井 昭宏
電気通信大学 電子物性工学科
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名取 晃子
電気通信大学電気通信学研究科電子工学専攻
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河野 勝泰
電気通信大学
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坂本 克好
電気通信大学電子工学科
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長谷川 修司
東大院物理
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國分 剛
電通大
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安永 均
電気通信大学電子工学科
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名取 晃子
電気通信大学
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藤井 昭宏
電通大
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上沢 貴秋
電通大
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原 一穀
電通大
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網田 正大
電通大
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藤井 昭弘
電通大
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長谷川 修司
東京大学大学院理学研究科
著作論文
- EuイオンをドープしたCaF_2, MgF_2膜の作製及び評価
- 21pWH-12 In被覆Au探針を用いたエレクトロマイグレーションの観察(表面界面ダイナミクス,領域9,表面・界面,結晶成長)
- シンチレーション単結晶KMgF_3:Smの光学的・磁気的物性
- Ag探針を用いた表面エレクトロマイグレーションのSEM観察
- 13aXF-11 金属 tip を用いた薄膜形成の UHV-SEM による観察(表面界面ダイナミクス : シリコン・ダイヤモンド, 領域 9)
- 28pPSB-69 UHV-SEM を用いた Vicinal Si(001) 表面エレクトロマイグレーションのその場観察
- 27a-PS-55 水素吸着Ta(100)表面の構造解析 III
- 31a-PS-34 水素吸着Ta(100)表面の構造解析 II
- 20aPS-21 室温と液体窒素温度における酸素吸着 W(001)2×1-O の表面構造解析
- 19pPSB-27 低温における酸素吸着W(001)表面の構造解析
- 26aPS-39 アニールした酵素吸着W(001)表面の構造解析
- 31a-PS-24 Si(001)微斜面におけるIn薄膜の質量輸送
- 7a-PS-46 水素吸着Ta(100)表面の構造解析
- 2p-PSA-9 Si(001)微斜面におけるInの質量輸送 II
- 28p-WC-5 SI(001) 上 Inの表面拡散とエレクトロマイグレーション
- 29p-PSB-12 Si(001)表面におけるInの質量輸送
- 30p-BPS-17 SOIの表面エレクトロマイグレーション
- 6pPSB-32 アニールしたW(001)-O 2×1表面の構造解析 : 2つの構造の共存(表面界面結晶成長,領域9)