高橋 直子 | 豊田中央研究所

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概要

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• 高橋 直子

  豊田中央研究所

• 高橋 直子

  (株)豊田中央研究所 表面分析研究室

• 木本 康司

  豊田中央研究所

• 上杉 勉

  豊田中央研究所

• 大森 俊英

  豊田中央研究所

• 大森 俊英

  (株)豊田中央研究所 トライボロジ研究室

• 加地 徹

  豊田中央研究所

• 菊田 大悟

  豊田中央研究所

• 成田 哲生

  豊田中央研究所

• 片岡 恵太

  豊田中央研究所

• 杉本 雅裕

  トヨタ自動車

• 杉本 雅裕

  トヨタ自動車(株)

• 大森 俊英

  (株)豊田中央研究所

• 森 広行

  (株)豊田中央研究所 表面改質研究室

• 菊田 大悟

  豊田中研

• 上杉 勉

  豊田中研

• 加地 徹

  豊田中研

• 加地 徹

  株式会社豊田中央研究所

• 森 広行

  (株)豊田中研

• 中西 和之

  (株)豊田中央研究所 表面改質研究室

• 村瀬 篤

  (株)豊田中央研究所

• 森 広行

  (株)豊田中央研究所

• 中西 和之

  (株)豊田中央研究所

• 加藤 直彦

  (株)豊田中央研究所 太陽電池研究室

• 太刀川 英男

  (株)豊田中央研究所

• 遠山 護

  (株)豊田中央研究所

• 高橋 直子

  株式会社豊田中央研究所

• 森 広行

  株式会社豊田中央研究所

• 木本 康司

  株式会社豊田中央研究所

• 大森 俊英

  株式会社豊田中央研究所

• 村瀬 篤

  株式会社豊田中央研究所

• 加藤 直彦

  (株)豊田中央研究所

• 遠山 護

  豊田中研

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著作論文

• 無添加鉱油中におけるDLC-Si膜の低摩擦機構
• 大気中無潤滑下におけるDLC-Si膜の低摩擦特性
• 硫黄系化合物配合ATFによる湿式クラッチの高摩擦係数化
• 誘導体化XPS法によるDLC-Si上シラノール基の分析
• 硬X線光電子分光法によるp型GaNのドライエッチングダメージ評価(窒化物及び混晶半導体デバイス)
• 硬X線光電子分光法によるp型GaNのドライエッチングダメージ評価(窒化物及び混晶半導体デバイス)
• 硬X線光電子分光法によるp型GaNのドライエッチングダメージ評価(窒化物及び混晶半導体デバイス)
• 硬X線光電子分光法によるp型GaNのドライエッチングダメージ評価

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