竹田 裕 | 日本電気株式会社デバイスプラットフォーム研究所
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概要
関連著者
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羽根 正巳
日本電気株式会社シリコンシステム研究所
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河田 道人
株式会社nec情報システムズ
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竹田 裕
Necエレクトロニクス株式会社lsi基礎開発研究所
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羽根 正巳
NECエレクトロニクス株式会社LSI基礎開発研究所
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羽根 正己
日本電気(株)システムデバイス研究所
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羽根 正巳
Necシステムデバイス・基礎研究本部
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羽根 正巳
日本電気株式会社システムデバイス研究所
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竹田 裕
日本電気株式会社デバイスプラットフォーム研究所
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池澤 健夫
株式会社NEC情報システムズ
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羽根 正巳
ルネサスエレクトロニクス先行研究統括部
著作論文
- Ge-pMOSFETにおける正孔輸送特性の歪み依存性解析(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
- Ge-pMOSFETにおける正孔輸送特性の歪み依存性解析(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)