岩田 栄之 | 富山県立大学
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概要
関連著者
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岩田 栄之
富山県立大学
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大曽根 隆志
岡山県立大学
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大曽根 隆志
岡山県立大学情報工学部
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松田 敏弘
富山県立大学
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大曽根 隆志
富山県立大学工学部電子情報工学科
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大曽根 隆志
富山県立大学
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森下 賢幸
岡山県立大学 情報工学部
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小椋 清孝
岡山県立大学 情報工学部
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森下 賢幸
岡山県立大学情報工学部
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小椋 清孝
岡山県立大学情報工学部
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森下 賢幸
岡山県大 情報工
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森下 賢幸
岡山県立大学
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小椋 清孝
岡山県立大学
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山本 真也
株式会社シキノハイテック
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石井 英二
岡山県立大学 情報工学部
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伊原 隆
株式会社シキノハイテック
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南 隆一
富山県立大学工学部
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杉山 裕也
富山県立大学
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岡田 和彦
岡山県立大学情報工学部
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金森 章
富山県立大学工学部
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中島 茂樹
株式会社シキノハイテック
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大曽根 隆志
工学部電子情報工学科
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岩田 栄之
工学部電子情報工学科
-
岩田 栄之
富山県立大学工学部
-
松田 敏弘
富山県立大学工学部
著作論文
- n-MOSFETの非対称性および配置方位依存性の解析(デバイス,VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低消費電力))
- n-MOSFETの非対称性および配置方位依存性の解析(デバイス, VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低消費電力))
- CMOSFETのチャネル幅方向の信頼性を分離して評価するためのテスト構造(VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低消費電力))
- CMOSFETのチャネル幅方向の信頼性を分離して評価するためのテスト構造(VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低消費電力))
- LDD構造CMOSFETにおける(高ドープ/低ドープ)・ドレイン解析用テスト構造(VLSI回路, デバイス技術(高速・低電圧・低消費電力))
- LDD構造CMOSFETにおける(高ドープ/低ドープ)・ドレイン解析用テスト構造(VLSI回路, デバイス技術(高速・低電圧・低消費電力))
- 高精度CMOS定電圧回路の開発(VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低電力))
- 高精度CMOS定電圧回路の開発(VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低電力))
- ナノスケールMOSFET対応の2次元量子力学的自己無撞着モデル
- 低温における不均一半導体デバイス解析のための輸送方程式の導出
- 高い(電子・正孔)移動度を有する高性能な統合化 CMOS デバイスの提案