保坂 純男 | 日立 中研
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概要
関連著者
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保坂 純男
日立 中研
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細木 茂行
日立製作所
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高田 啓二
日立中研
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細木 茂行
日立 中研
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細木 茂行
日立中研
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保坂 純男
日立中研
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長谷川 剛
日立中研
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野村 節生
日立中研
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高田 啓二
日立製作所基礎研究所
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保坂 純男
(株)日立製作所
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保坂 純男
日立製作所中央研究所
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長谷川 剛
日立製作所中央研究所
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高田 啓二
日立製作所中央研究所
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加藤 恵三
(株)日立製作所
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伊藤 顕知
(株)日立製作所中央研究所
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原田 達男
東京都立大学
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高田 啓二
(株)日立製作所 基礎研究所
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細木 茂行
(株)日立製作所
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原田 達男
(株)日立製作所
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野村 節生
日立製作所中央研究所
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一色 史雄
(株)日立製作所 中央研究所
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伊藤 顕知
(株)日立製作所 中央研究所ストレージ研究部
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新谷 俊道
(株)日立製作所 中央研究所
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保坂 純男
日立中央研究所
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鹿又 一郎
日立中央研究所
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橋本 誠也
日立中央研究所
著作論文
- 6a-T-11 STMによるAu/Si(111)吸着構造の観察
- 走査型トンネル顕微鏡の試作と表面観察
- 3a-B4-6 STMによる酸素ガス吸着状態の観察
- 3a-B4-4 高速走査型トンネル顕微鏡による実時間観察
- 走査型トンネル顕微鏡(STM)とその画像 : "画像変換装置"合同研究会 : 電子装置 : 画像表示
- 27a-P-6 STMによるSi表面の観察
- 27a-P-5 STMによる層状物質表面の観察
- 高速レ-ザ-描画システム
- 半導体プロセスにおけるレ-ザ-ビ-ム走査技術
- 超高真空AFM/STM装置による表面観察 (走査プロ-ブ顕微鏡の最前線)
- SNOM技術の光記録へ応用
- STMの高性能化と先端プロセスへの応用
- イオンビーム加工法によるスパッタ率