高田 啓二 | (株)日立製作所 基礎研究所

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著作論文

• 27aXR-9 歪イメージングによる磁性計測(遷移金属・実験技術)(領域3)
• ひずみイメージングによる強誘電体薄膜の微視的評価
• トンネル音響顕微鏡の原理と応用
• トンネル音響顕微鏡
• 走査型トンネル顕微鏡の試作と表面観察

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