土屋 忠厳 | 新機能素子研究開発協会
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概要
関連著者
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鈴木 彰
立命館大学 総合理工学研究機構
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檜木 啓宏
立命館大学 理工学部
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山田 朋幸
新機能素子研究開発協会
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土屋 忠厳
新機能素子研究開発協会
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城川 潤二郎
新機能素子研究開発協会
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荒木 努
立命館大学 理工学部
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名西 〓之
立命館大学理工学部
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土屋 忠厳
(財)新機能素子研究開発協会
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荒木 努
立命館大学理工学部
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鈴木 彰
(株)ダイフク
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名西 之
立命館大学理工学部
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小坂 賢一
立命館大学 理工学部
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藤嶌 辰也
立命館大学 理工学部
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井上 薫
新機能素子研究開発協会
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神谷 慎一
新機能素子研究開発協会
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名西 〓之
立命館大学 理工学部
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名西 〓之
立命館大学
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荒木 努
立命館大学理工学部電子光情報工学科
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名西 惠之
立命館大学
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廣山 雄一
新機能素子研究開発協会
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岩見 正之
新機能素子研究開発協会
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名西 博之
立命館大学理工学部
著作論文
- マイクロラマン分光によるAlGaN/GaN HFET高電圧動作時の温度分布解析(窒化物及び混晶半導体デバイス)
- マイクロラマン分光によるAlGaN/GaN HFET高電圧動作時の温度分布解析
- GaNバッファ層リーク電流とルミネセンス強度との相関に関する研究(特別セッションテーマ: GaN電子デバイスはどこまで特性を伸ばすのか?, 窒化物半導体光・電子デバイス・材料, 及び関連技術, 及び一般(窒化物半導体国際ワークショップ))
- マイクロラマン分光によるAlGaN/GaN HFET高電圧動作時の温度分布解析(窒化物及び混晶半導体デバイス)
- マイクロラマン分光によるAlGaN/GaN HFET高電圧動作時の温度分布解析(窒化物及び混晶半導体デバイス)
- GaNバッファ層リーク電流とルミネセンス強度との相関に関する研究(特別セッションテーマ: GaN電子デバイスはどこまで特性を伸ばすのか?, 窒化物半導体光・電子デバイス・材料, 及び関連技術, 及び一般(窒化物半導体国際ワークショップ))
- GaNバッファ層リーク電流とルミネセンス強度との相関に関する研究(特別セッションテーマ: GaN電子デバイスはどこまで特性を伸ばすのか?, 窒化物半導体光・電子デバイス・材料, 及び関連技術, 及び一般(窒化物半導体国際ワークショップ))