山葉 隆久 | ローム株式会社
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概要
関連著者
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山葉 隆久
ローム株式会社
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寺本 章伸
東北大学未来科学技術共同研究センター
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大見 忠弘
東北大学未来科学技術共同研究センター
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須川 成利
東北大学 大学院 工学研究科
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須川 成利
東北大学大学院工学研究科
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渡辺 一史
東北大学大学院工学研究科
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黒田 理人
東北大学大学院工学研究科技術社会システム専攻
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黒田 理人
東北大学工学研究科
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三富士 道彦
ローム株式会社
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黒田 理人
東北大学大学院工学研究科
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寺本 章伸
東北大学未来科学共同センター
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大見 忠弘
東北大学未来科学共同センター
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舛岡 富士雄
東北大学電気通信研究所
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山葉 隆久
ヤマハ(株)半導体事業部
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平出 誠治
ヤマハ(株)半導体事業部
著作論文
- Hole注入法によるNBTI評価手法及び寿命予測方法の開発(半導体表面・界面制御と電子デバイスの信頼性, 信頼性一般)
- Hole注入法によるNBTI評価手法及び寿命予測方法の開発(半導体表面・界面制御と電子デバイスの信頼性, 信頼性一般)
- Hole注入法によるNBTI評価手法及び寿命予測方法の開発(半導体表面・界面制御と電子デバイスの信頼性, 信頼性一般)
- 配線中チタンの水素吸蔵に依るトランジスタ特性への影響