三富士 道彦 | ローム株式会社

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概要

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関連著者

• 寺本 章伸

  東北大学未来科学技術共同研究センター

• 大見 忠弘

  東北大学未来科学技術共同研究センター

• 須川 成利

  東北大学 大学院 工学研究科

• 須川 成利

  東北大学大学院工学研究科

• 渡辺 一史

  東北大学大学院工学研究科

• 黒田 理人

  東北大学大学院工学研究科技術社会システム専攻

• 黒田 理人

  東北大学工学研究科

• 三富士 道彦

  ローム株式会社

• 山葉 隆久

  ローム株式会社

• 黒田 理人

  東北大学大学院工学研究科

• 寺本 章伸

  東北大学未来科学共同センター

• 大見 忠弘

  東北大学未来科学共同センター

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著作論文

• Hole注入法によるNBTI評価手法及び寿命予測方法の開発(半導体表面・界面制御と電子デバイスの信頼性, 信頼性一般)
• Hole注入法によるNBTI評価手法及び寿命予測方法の開発(半導体表面・界面制御と電子デバイスの信頼性, 信頼性一般)
• Hole注入法によるNBTI評価手法及び寿命予測方法の開発(半導体表面・界面制御と電子デバイスの信頼性, 信頼性一般)

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