斉藤 光史 | 富山大学vbl
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概要
関連著者
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斉藤 光史
富山大学vbl
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森 雅之
富山大学工学部
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前澤 宏一
富山大学工学部
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斉藤 光史
首都大学東京大学院理工学研究科電気電子工学専攻
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前澤 宏一
富山大学理工学教育部:研究部
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斉藤 光史
首都大学東京理工学研究科電気電子工学専攻
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上田 広司
富山大学工学部
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丹保 豊和
富山大学工学部電気電子システム工学科
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吉田 達雄
富山大学工学部
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斉藤 光史
富山大学ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー
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長島 恭兵
富山大学工学部
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丹保 豊和
富山大学理工学研究科
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丹保 豊和
富山大学工学部
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龍山 智栄
富山大 工
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斉藤 光史
富山大学
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龍山 智栄
富山大学工学部
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前澤 宏一
富山大学理工学研究部(工学)
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山下 勇司
富山大学工学部
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斉藤 光史
富山大学工学部
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佐々木 透
富山大学工学部
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佐々木 寛和
富山大学工学部
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丹保 豊和
富山大学工学部電子情報工学科
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前澤 宏一
富山大学理工学教育学部
著作論文
- 表面再構成制御成長法によるSi上InSb量子井戸作製とその超高速FETへの応用(研究員報告)
- Si(111)基板上での30゜回転InSb薄膜層形成に対するIn及びSb層の効果(半導体のプロセス・デバイス(表面,界面,信頼性,一般))
- Si(111)-√7×√3-In表面再構成構造を介したInSb薄膜のヘテロエピタキシャル成長(半導体のプロセス・デバイス(表面,界面,信頼性,一般))
- Si基板上のInSb単分子初期層を介した高品質InSb薄膜形成(化合物半導体プロセス・デバイス・一般)
- Si(111)-(7×7)再構成表面上におけるInナノクラスター配列構造上へのSb吸着(薄膜プロセス・材料,一般)
- Si(111)-√7×3-In 表面再構成構造を介したInSb薄膜のヘテロエピタキシャル成長