堀 陽子 | 富士通クオリティ・ラボ株式会社
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概要
関連著者
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杉井 寿博
(株)富士通研究所
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福留 秀暢
富士通マイクロエレクトロニクス株式会社
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堀 陽子
富士通クオリティ・ラボ株式会社
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保坂 公彦
富士通マイクロエレクトロニクス株式会社
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籾山 陽一
富士通マイクロエレクトロニクス株式会社
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佐藤 成生
富士通マイクロエレクトロニクス株式会社
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杉井 寿博
富士通マイクロエレクトロニクス株式会社
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籾山 陽一
富士通(株)
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福留 秀暢
富士通マイクロエレクトロニクス
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杉井 寿博
富士通マイクロエレクトロニクス
著作論文
- Sub-30nm NMOSFETにおけるゲートLER起因閾値電圧ばらつきを抑制するための包括的な不純物分布設計法(低電圧/低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用)
- Sub-30nm NMOSFETにおけるゲートLER起因閾値電圧ばらつきを抑制するための包括的な不純物分布設計法(低電圧/低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用)