田辺 亮 | 株式会社富士通研究所

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概要

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関連著者

• 岡 秀樹

  株式会社富士通研究所

• 岡 秀樹

  (株)富士通研究所

• 田辺 亮

  株式会社富士通研究所

• 芦澤 芳夫

  株式会社富士通研究所

• 山崎 隆浩

  株式会社富士通研究所

• 山崎 隆浩

  富士通研究所

• 山崎 隆浩

  富士通研

• 田辺 亮

  株式会社 富士通研究所

• 芦澤 芳夫

  株式会社 富士通研究所

• 岡 秀樹

  株式会社 富士通研究所

著作論文

• インバータ,SRAM回路におけるばらつき要因が回路特性に与える影響の分析(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
• SRAM回路の3次元Mixed Modeシミュレーションによるスケーリングの検討(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
• 電流方向を考慮した歪みSiデバイスのスケーリングに関する検討(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
• 3次元モンテカルロ・シミュレーションによるマルチゲートMOSFETの検討(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
• フルバンド・モンテカルロ・シミュレータFALCONによる量子力学的効果の解析(プロセス・デバイス・回路・シミュレーション及び一般)
• フルバンド・モンテカルロ・シミュレータFALCONによる量子力学的効果の解析(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
• インバータ,SRAM回路におけるばらつき要因が回路特性に与える影響の分析(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
• SRAM回路の3次元Mixed Modeシミュレーションによるスケーリングの検討(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
• 電流方向を考慮した歪みSiデバイスのスケーリングに関する検討(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
• 3次元モンテカルロ・シミュレーションによるマルチゲートMOSFETの検討(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)

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