SiNx絶縁ゲートGaAsエッチングナノワイヤFETにおける低周波雑音特性の評価 (電子デバイス)

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概要

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• 2011-07-29

著者

• 三浦 健輔

  北大院情報科学および量集センター

• 村松 徹

  北大院情報科学および量集センター

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